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BGA62测试座采用探针结构的翻盖式座头,使用寿命高达10万次,保修是三个月,测试座特点: 1. 座头采用手动翻盖结构,操作灵敏。 2. 座头顶盖的芯片压块采用人性化结构,下压力度平稳,**IC的压力均匀,不偏移。 3. 探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层,接触性能稳定, 保护锡球外形。 4. 理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位**。 5. 特殊IC载板结构,保护探针不受外力损坏。 6. 探针:进口探针,铍铜镀硬金、铑。寿命8万次以上 7.维修成本低:方便更换探针,成本低**。 8.高强度耐高温绝缘材料:330度。 9.成熟加工精度范围:跳距pitch=0.38mm。 10.交货周期:较快三天内交货。 **BGA63/BGA107/BGA100/BGA137/BGA136/BGA149/BGA152/BGA199/BGA225测试座转成DIP48,同时可根据客 户的测试板制作BGA测试座,LGA测试座